Filmetrics F20 薄膜厚度測量儀

測量厚度從 1nm 到 10mm 的膜厚測量系統(tǒng)

您是想要知道薄膜厚度、光學常數，還是想要知道材料的反射率和透過率，F(xiàn)20都能滿足您的需要。僅需花費幾分鐘完成安裝，通過USB連接電腦，設備就可以在數秒內得到測量結果。基于模塊化設計的特點，F(xiàn)20適用于各種應用。

我們能測量什么

薄膜特性：厚度、反射率、透射率、光學常數、均勻性、刻蝕量等

薄膜種類：透明及半透明薄膜，常見如氧化物、聚合物甚至空氣

薄膜狀態(tài)：固態(tài)、液態(tài)和氣態(tài)薄膜都可以測量

薄膜結構：單層膜、多層膜；平面、曲面

薄膜厚度測量儀附加特性

• 嵌入式在線診斷方式

• 免費離線分析軟件

• 精細的歷史數據功能，幫助用戶有效的存儲、重現(xiàn)和繪制測量結果

所有的這些功能都伴隨著直觀的軟件界面以及我們即時的電話和互聯(lián)網支持（24小時/每周5工作日）。

膜層范例

基本上光滑的、半透明的或低吸收系數的薄膜可以測量。

這包括電介質與半導體材料，例如：

膜厚測量范圍

測量原理

常見應用

我們對薄膜問題都很感興趣，歡迎與我們聯(lián)系討論您的薄膜，并到我們的實驗室測試您的薄膜。